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Overlay套刻精度量测设备
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Overlay套刻精度量测设备

规格: 兼容8/12吋
品牌: 奈米科学
产品详情
  • 样品尺寸:8/12吋

  • 具有影像自动聚焦,保持高产能

  • 定制高分辨率UV物镜

  • 搭载五色滤光片以及UV光,适用不同的应用场景

  • 搭载MOS算法,满足多台阶套刻的量测需求

  • 支持定制Cassette、FOUP、EFEM